X射线荧光镀层测厚仪产品类型:能量色散X荧光光谱分析设备 产品名称:镀层测厚仪型 号:iEDX-150T生 产 商:韩国ISP公司亚太地区战略合作伙伴:凯利公式必胜技巧电子科技有限公司应用领域:金属电镀镀层分析
更新时间:2023-04-24
品牌 | ISP/韩国 | 行业专用类型 | 通用 |
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价格区间 | 10万-30万 | 仪器种类 | 台式/落地式 |
一、产品优势及特征
(一)产品优势
1. 镀层测厚仪运用X射线荧光光谱分析方法进行镀层检测,多镀层检测可达5层,精度及稳定性可控制在+/-5%内。
2. 仪器尺寸:618*525*490mm,样品移动距离:160*150*90mm。
3. 激光定位和自动多点测量功能。
(二)产品特征
2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换器)。
励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
线性模式进行薄镀层厚度测量
相对(比)模式 无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多镀层厚度同时测量
单镀层应用 [如:Cu/ABS等]
双镀层应用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]
三镀层应用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass等]
四镀层应用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]
合金镀层应 [如:Sn-Ni/ABS Pd-Ni/Cu/ABS等]
5. Smart-Ray. 快速、简单的定性分析的软件模块。可同时分析20种元素。半定量分析频谱比较、减法运算和配给。
Smart-Ray. 金属行业精确定量分析软件。可一次性分析25种元素。小二乘法计算峰值反卷积。采用卢卡斯-图思计算方法进行矩阵校正及内部元素作用分析。金属分析精度可达+ /-0.02%,贵金属(8-24 Karat) 分析精度可达+ /-0.05kt
Smart-Ray。含全元素、内部元素、矩阵校正模块。
二、产品配置及技术指标说明
u 测量原理:能量色散X射线分析 | u 样品类型:固体/粉末 |
u X射线光管:50KV,1mA | u过滤器:5过滤器自动转换 |
u检测系统:SDD探测器(或Si-Pin) | u能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV) |
u检测元素范围:Al (13) ~ U(92) | u准直器孔径:0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可选) |
u应用程序语言:韩/英/中 | u分析方法:FP/校准曲线,吸收,荧光 |
u仪器尺寸:618*525*490mm | u样品移动距离:160*150*90mm |
1. X射线管:高稳定性X光光管,微焦点X射线管、Mo (钼) 靶
铍窗口, 阳极焦斑尺寸75um,油绝缘,气冷式,辐射安全电子管屏蔽。
50kV,1mA。高压和电流设定为应用程序提供优异性能。
能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)
初级滤光片:Al滤光片,自动切换
7个准直器:客户可选准直器尺寸或定制特殊尺寸准直器。
(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )
6. 分析谱线:
- 2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换)
- 基点改正(基线本底校正)
- 密度校正
- Multi-Ray软件包含元素ROI及测量读数自动显示
7.视频系统:高分辨率CCD摄像头、彩色视频系统
- 观察范围:3mm x 3mm
- 放大倍数:40X
- 照明方法:上照式
- 软件控制取得高真图像
8. 计算机、打印机(赠送)
注:设备需要配备稳压器,需另计。
五、软件说明
1.镀层测厚仪仪器工作原理说明
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